產品展示
概述
TBPS01近場探頭由TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構造塊中定位和識別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線，用于拾取組件，PCB跡線，外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發(fā)出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭，可以進一步縮小發(fā)射源的范圍。其他應用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試：此外，探頭可用于維修或調試領域，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平。另一種應用是對射頻構件（例如調制器或振蕩器）的無創(chuàng)測量。頻率，相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量。
應用：
EMI輻射預測/整改
探頭尺寸：
探頭 | 尺寸 | 環(huán)尺寸 | 環(huán)長 |
H20 磁場探頭 | 170mm | 20 mm | N.A. |
H10 磁場探頭 | 170mm | 10 mm | N.A. |
H5 磁場探頭 | 170mm | 5 mm | N.A. |
E5 電場探頭 | 170mm | N.A. | 5 mm |
頻率響應：
耦合衰減：
