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近場探頭介紹 
    電磁場是由電場(E場)和磁場(H場)結合形成的。工程師可使用各種探頭來檢測每類場中的發(fā)射。  
    近場探頭磁場發(fā)射源通常來自芯片組引腳、印刷電路板導線、電源線或信號線，或沒有良好接地的金屬蓋。近場探頭的感應元件是一個與發(fā)射導線或電線電感耦合的簡易線圈。近場探頭在它的回路與載流電線對齊時，提供頻譜分析儀的zui大輸出電壓。在診斷EMI的故障時，工程師需要在被測器件的表面旋轉和移動探頭，以確定探頭在功率讀數(shù)達到zui大值時的位置，同時避免遺漏重要的發(fā)射源。 
    近場探頭電場主要來源于未使用負載端接的電纜和電線，以及通向高阻抗邏輯電路的印刷電路板導線(可能是邏輯集成電路的高阻抗輸入或三相輸出)。zui簡單的近場探頭實質上就是一個小型天線。近場探頭能夠很方便地探測空中信號，例如蜂窩下行鏈路信號。這些大功率空中信號可能需要增加衰減，以防頻譜分析儀過載。不過，增加衰減將會影響頻譜分析儀的靈敏度。 
    選擇近場探頭類型在遠場測試中，被測器件和天線之間的距離決定了場強的大小。當近場探頭靠近發(fā)射源時，電流、電壓、形狀和材料等特性將成為決定場強的主要因素。如果輻射是來自高電壓、弱電流的電路或元器件，那么電場在EMI近場中將起到主要作用。如果部分被測器件中電流很強而電壓較低，那么磁場將起到主要作用。在近場測試中，當近場探頭逐漸遠離被測器件時，磁場衰落的速度比電場更快。因此，近場探頭更多地用于在近場測試中定位發(fā)射目標。